结果分析与设计策略
影响机制:辅助绕组通常匝数少、电流小,其耦合要求不高。但当它被放置在最外层时,它与次级绕组之间会存在一个很大的“无效”空间,这个空间成为了新的、主要的漏磁通路。原来由最外层初级(P2)提供的“屏蔽”和“耦合”作用消失了,导致从初级侧看进去的总漏感增大。
对您设计的启示:
重新评估开关管应力:增加了辅助绕组后,尤其是采用 P-S-P-A 绕法时,漏感增大了近30%。您必须重新仿真或测试MOSFET的关断电压尖峰,确认您的钳位电路是否仍有足够的余量。
效率会略有下降:因为需要由钳位电路消耗掉的漏感能量增加了。
优化建议:
最佳实践(如果空间允许):将辅助绕组嵌入到初级和次级之间。例如,采用 P1 - S - A - P2 的结构。这样可以让辅助绕组也能与主绕组良好耦合,同时不破坏外层初级对内部的屏蔽。但这会增加工艺复杂性,并需要满足辅助绕组与次级之间的绝缘要求。
妥协方案:如果只能放在最外层,那么在设计初期就应使用P-S-P-A的漏感值进行仿真和计算,留出足够的余量。
总结:增加最外层辅助绕组后,所有绕法的初级漏感都会增加(约10%-30%),但它们的性能排名顺序不变。P-S-S-P-A 仍然是综合性能最好的选择,但您必须意识到其漏感值已从5.0μH升至约6.2μH,并依此进行后续设计。
✘✘✘把辅助、风扇绕组等其他绕组放到最外面居然是一个错误。ai只建议p绕组放到最外面。



