近日,中国科学院微电子研究所集成电路先导工艺研发团队在中国科学杂志社的《国家科学评论》(National Science Review,NSR)在线发表了关于先进CMOS集成电路新结构晶体管的综述文章“New structure transistors for advanced technology node CMOS ICs”(《用于集成电路的新兴材料和晶体管》专题论文之一),并入选期刊封面论文。该文从最新的GAAFET所面临的关键技术挑战出发,针对1nm技术节点下集成电路持续发展的集成密度需求,介绍了实现晶体管垂直三维堆叠的主要途径,包括上下垂直互补FET(也称3D堆叠FET)和垂直沟道晶体管,总结了实现晶体管三维堆叠的单次与顺次集成路径和工艺方法、所需的创新工艺、材料(低温外延硅、碳纳米管、二维材料等)以及协同设计技术,分析了面向大规模集成应用的关键工艺、电路设计及内部散热挑战,展望了未来进一步与其它新原理晶体管及3D芯片与系统结合的综合发展可能。