SS1-COM SunScan冠层分析系统是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。本系统不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作（在接近中午的时候更好）。
SS1-COM配置上包含BF5日照传感器，用来参照测量直接和散射的入射光，提高测量精度。

特点：
·可测量冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）；
·可直接显示叶面积指数（LAI）；
·阴天和晴天均可使用；
·理想的表型的应用程序。