我有看过SD PIND 和TRANSMST PIND的检测过程，他们都是给定振动台一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒松动，再通过一定频率的振动，使颗粒在系统内产生位移。也就是颗粒相对产品壳体会有滑动和撞击的过程。然后通过采集这个位移信号来判断是否存在多余的颗粒。这个是我之前在学校的时候见过的两种，学校买来做课题研究用的，工作过程应该没错。不清楚其他的PIND是不是也是这样，如果有不同的意见希望提出，多交流。

是的，现在金属粉末是可以检测出来的，我刚才特地去看了一下，最好的 SD PIND能检测一个MIL的微粒，现在最新的TRANSMST PIND 能精确的看到20mv以上的电压信号。不得不服，科技在进步。

颗粒碰撞噪声检测（Particle Impact Noise Detection P.I.N.D.）是一种对多余物检验的有效手段。其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲击和振动，通过冲击使被束缚在产品中的颗粒（即多余物）松动，再通过一定频率的振动，使多余物在系统内产生位移。活动的多余物在产品中发生位移的过程，是多余物相对产品壳体的滑动和撞击的一个随机组合过程。在这个过程中，将产生应力弹性波和声波。这两种波在产品壳体中传播并形成混响信号，这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后，经前置放大器放大，位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质，以此得出检测结论。
最小可检测颗粒质量为0.16微克，当然和颗粒的形状、材质等也有一定关系。PIND是一项无损检测方式，PTI公司PIND产品。PINDTEST网站有更为详细的技术资料。