1 ;目测,在日光或灯下剔除双晶，剔除多晶体，剔除中夹杂物，剔除明显含云雾状的晶，剔除染色不均一单块，剔除紫色晶体。 2;将测试晶体两个对面进行研磨加工.抛光至光学O度，使用干涉测试仪对晶体内进行干涉捡查，调整光斑和光束大小进行遂行扫描，光路允许变色.但不允许道波扭曲，道波扭曲应剔除，剔除管道结抅单块,剔除内含气体包裹体单块(若包裹体位罝在税角又末超过总总体积三分之一应保留，视为部分合格,计价时按三分之二计算)通过本测试算合格。 3; 晶体锐角处有缺陷,缺陷指[裂隙,双晶,染色不均,或气体分子堆积,不超过边长三分之一视为合格。 4通过上述测试的晶体再罝于双折射仪均匀度仪下测试.在显视屏上覌察光圈，平镜光圈连续均匀为优良晶体.反之为普通级。 标准制定人黄惠勋,最终解释权归个人。二0一七年 10月1日公布